脈沖式線圈匝間測(cè)試儀工作原理

脈沖式線圈測(cè)試儀以MCU中央信息處理系統(tǒng)為核心，由它控制高壓脈沖發(fā)生器對(duì)線圈施加一次極短時(shí)間的高壓脈沖，線圈在脈沖作用下產(chǎn)生自由衰減振蕩,其瞬態(tài)波形的模擬信號(hào)經(jīng)由CPLD可編程邏輯器件控制的高速A/D轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào),然后反饋至MCU中央信息處理系統(tǒng)進(jìn)行時(shí)間、電暈量、面積、相位等參數(shù)的運(yùn)算，處理結(jié)果保存在MCU信息處理系統(tǒng)的電子存儲(chǔ)器中，并用直觀易懂的文字、數(shù)據(jù)及圖形顯示在240×320點(diǎn)陣液晶模塊LCM上，從而保證了波形重現(xiàn)的真實(shí)性。并且根據(jù)用戶設(shè)定的條件,對(duì)合格或不合格者進(jìn)行報(bào)警處理。另一路短路探頭檢測(cè)線圈在高壓脈沖沖擊下感應(yīng)到的信號(hào)進(jìn)行放大，經(jīng)由高速A/D轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào),然后反饋至MCU中央信息處理系統(tǒng)進(jìn)行計(jì)算并顯示波形，經(jīng)多次測(cè)量和計(jì)算，并用直觀易懂的文字、數(shù)據(jù)顯示在240×320點(diǎn)陣液晶模塊LCM上，從而方便了用戶找出短路位置。

                                               原理框圖